仪器型号

Tecnai G2 F30 S-Twin

放置地点

莲华校区图书馆南侧一楼电镜室

资产编号

20141d0008

生产厂商

FEI

国别

荷兰

仪器负责人

王明均

所属单位

分析测试研究中心

详细信息

性能指标

（1）加速电压：300 KV；

（2）点分辨率：0.205 nm；

（3）线分辨率：0.102 nm；

（4）放大倍数： 0.29～100万倍；

（5）样品杆：配备单倾杆、低背景双倾杆；样品倾斜角度：α≤40°，β≤20°；

（6）能谱仪：芯片有效面积≥60mm²；能谱能量分辨率：对于Mn_Ka，≤129eV; 元素检测范围：₄Be～₉₈Cf；

主要应用

（1）普通（高分辨）透射成像模式：可进行样品的形貌、尺寸、高分辨结构等分析，包括TEM（明场、暗场成像）、HRTEM（高分辨成像）；

（2）扫描透射（STEM）成像模式：可进行样品的形貌、尺寸、原子序数衬度的观察与分析，包含HAADF成像探头；

（3）微区电子衍射：用于样品微区的物相和晶体结构研究，包含选区电子衍射、会聚束电子衍射；

（4）EDS能谱分析：用于样品微区化学成分的定性、半定量及点/线/面分布等分析；

样品要求

（1）样品厚度适宜，能让电子束穿透，通常小于100nm（越厚，TEM明场像越黑）；

（2）样品在高真空条件下耐电子束辐照或热稳定性好；

（3）样品不危害设备和操作员，如样品无强磁性、无挥发性和无电离辐射等；

仪器说明

Tecnai G2 F30 S-Twin是FEI公司生产的一款300 kV场发射透射电子显微镜，它将TEM、STEM、EDX等各种透射电镜技术有机组合，具备高性能的透射电子成像、扫描透射成像和纳米、原子尺度分析能力，广泛应用于纳米材料、金属、陶瓷、半导体等领域，主要用于样品的微观形貌、晶体结构和相组织的观察与分析，以及样品微区化学成分的定性和半定量检测。

收费标准

校内用户

800元/小时

校外用户

1000元/小时