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能量色散型X荧光能谱仪

发布时间:2025.10.13 作者: 浏览次:

仪器设备介绍

仪器名称

能量色散型X荧光能谱仪

仪器图片

仪器型号

ARL™ QUANT'X

放置地点

伍达观楼 204 室

资产编号

2015000469

生产厂商

赛默飞

国别

美国

仪器负责人

杨晓云

所属单位

分析测试研究中心

详细信息

性能指标

激发X-光管 超高通量;X-光发生器 4-50KV,1KV间隔;滤光片7种滤光片加1空位,自动选择;准直器1.0、2.0、3.5、6.8和8.8 五种;检测配置器Si(Li)电致冷 Si(Li)面积15mm2,分辨率<155 eV;Si(Li)LN Si(Li)面积30mm2,分辨率<149 eV;数字脉冲处理器全部参数程序控制,自动能量校正。

主要应用

X射线荧光光谱法具有快速准确,不破坏样品等优点,是进行试样常规无损检测最为理想实用的方法,冶金,材料,化工、钢铁与有色金属、环境等各行业得到了广泛的应用。可进行矿石、合金、土壤、塑料、纤维材料中Al13~U92之间元素的定性、半定量和定量分析。

样品要求

样品有足够的代表性试样在X射线照射下应该稳定、不变形、不引起化学变化。

仪器说明

本分析系统涵盖了元素范围从铝(Al)到铀(U),能够检测浓度范围广泛,从1 ppm到100%。该系统采用高级无标样分析软件,显著减少了对标准样品的依赖性。配备高灵敏度的电制冷硅锂(Si(Li))探测器,具有极高的分辨率:晶体面积为15 mm²,分辨率小于155 eV,工作电压50 kV,功率达到50瓦,搭载超强流端窗X射线管,提供卓越的束流性能。

此外,本系统使用多滤光片技术,配备8位可调滤光片,根据分析对象的不同元素,能够有效探测并清晰分辨相邻元素的数据。数据采集采用全数字脉冲处理器技术,具备长达60%的死时间,以及优异的峰背比,极大地提升了分析速度和精度。

收费标准

校内用户

元素定性半定量分析:100/样品

元素定量分析:(标曲线+标样/待测样品)300/次+100/样品

校外用户

元素定性半定量分析:150/样品

元素定量分析:(标曲线+标样/待测样品)300/次+150/样品

电话:0871-65183516(接样室) 0871-65111358(办公室)邮箱:ynatrc@kust.edu.cn地址:云南省昆明市学府路304号邮编:650031 滇ICP备14002063号-1